1 市場概要
1.1 半導体検査・計測装置の定義
1.2 グローバル半導体検査・計測装置の市場規模と予測
1.2.1 売上別のグローバル半導体検査・計測装置の市場規模（2019-2030）
1.2.2 販売量別のグローバル半導体検査・計測装置の市場規模（2019-2030）
1.2.3 グローバル半導体検査・計測装置の平均販売価格（ASP）（2019-2030）
1.3 中国半導体検査・計測装置の市場規模・予測
1.3.1 売上別の中国半導体検査・計測装置市場規模（2019-2030）
1.3.2 販売量別の中国半導体検査・計測装置市場規模（2019-2030）
1.3.3 中国半導体検査・計測装置の平均販売価格（ASP）（2019-2030）
1.4 世界における中国半導体検査・計測装置の市場シェア
1.4.1 世界における売上別の中国半導体検査・計測装置市場シェア（2019～2030）
1.4.2 世界市場における販売量別の中国半導体検査・計測装置市場シェア（2019～2030）
1.4.3 半導体検査・計測装置の市場規模、中国VS世界（2019-2030）
1.5 半導体検査・計測装置市場ダイナミックス
1.5.1 半導体検査・計測装置の市場ドライバ
1.5.2 半導体検査・計測装置市場の制約
1.5.3 半導体検査・計測装置業界動向
1.5.4 半導体検査・計測装置産業政策
2 世界主要会社市場シェアとランキング
2.1 会社別の世界半導体検査・計測装置売上の市場シェア（2019～2024）
2.2 会社別の世界半導体検査・計測装置販売量の市場シェア（2019～2024）
2.3 会社別の半導体検査・計測装置の平均販売価格（ASP）、2019～2024
2.4 グローバル半導体検査・計測装置のトップ会社、マーケットポジション（ティア1、ティア2、ティア3）
2.5 グローバル半導体検査・計測装置の市場集中度
2.6 グローバル半導体検査・計測装置の合併と買収、拡張計画
2.7 主要会社の半導体検査・計測装置製品タイプ
2.8 主要会社の本社と生産拠点
2.9 主要会社の生産能力の推移と今後の計画
3 中国主要会社市場シェアとランキング
3.1 会社別の中国半導体検査・計測装置売上の市場シェア（2019-2024年）
3.2 半導体検査・計測装置の販売量における中国の主要会社市場シェア（2019～2024）
3.3 中国半導体検査・計測装置のトップ会社、マーケットポジション（ティア1、ティア2、ティア3）
4 世界の生産地域
4.1 グローバル半導体検査・計測装置の生産能力、生産量、稼働率（2019～2030）
4.2 地域別のグローバル半導体検査・計測装置の生産能力
4.3 地域別のグローバル半導体検査・計測装置の生産量と予測、2019年 VS 2023年 VS 2030年
4.4 地域別のグローバル半導体検査・計測装置の生産量（2019～2030）
4.5 地域別のグローバル半導体検査・計測装置の生産量市場シェアと予測（2019-2030）
5 産業チェーン分析
5.1 半導体検査・計測装置産業チェーン
5.2 上流産業分析
5.2.1 半導体検査・計測装置の主な原材料
5.2.2 主な原材料の主要サプライヤー
5.3 中流産業分析
5.4 下流産業分析
5.5 生産モード
5.6 半導体検査・計測装置調達モデル
5.7 半導体検査・計測装置業界の販売モデルと販売チャネル
5.7.1 半導体検査・計測装置販売モデル
5.7.2 半導体検査・計測装置代表的なディストリビューター
6 製品別の半導体検査・計測装置一覧
6.1 半導体検査・計測装置分類
6.1.1 Defect Inspection Equipment
6.1.2 Metrology Equipment
6.2 製品別のグローバル半導体検査・計測装置の売上とCAGR、2019年 VS 2023年 VS 2030年
6.3 製品別のグローバル半導体検査・計測装置の売上（2019～2030）
6.4 製品別のグローバル半導体検査・計測装置の販売量（2019～2030）
6.5 製品別のグローバル半導体検査・計測装置の平均販売価格（ASP）（2019～2030）
7 アプリケーション別の半導体検査・計測装置一覧
7.1 半導体検査・計測装置アプリケーション
7.1.1 Wafer
7.1.2 Mask/Film
7.2 アプリケーション別のグローバル半導体検査・計測装置の売上とCAGR、2019 VS 2023 VS 2030
7.3 アプリケーション別のグローバル半導体検査・計測装置の売上（2019～2030）
7.4 アプリケーション別のグローバル半導体検査・計測装置販売量（2019～2030）
7.5 アプリケーション別のグローバル半導体検査・計測装置価格（2019～2030）
8 地域別の半導体検査・計測装置市場規模一覧
8.1 地域別のグローバル半導体検査・計測装置の売上、2019 VS 2023 VS 2030
8.2 地域別のグローバル半導体検査・計測装置の売上（2019～2030）
8.3 地域別のグローバル半導体検査・計測装置の販売量（2019～2030）
8.4 北米
8.4.1 北米半導体検査・計測装置の市場規模・予測（2019～2030）
8.4.2 国別の北米半導体検査・計測装置市場規模シェア
8.5 ヨーロッパ
8.5.1 ヨーロッパ半導体検査・計測装置市場規模・予測（2019～2030）
8.5.2 国別のヨーロッパ半導体検査・計測装置市場規模シェア
8.6 アジア太平洋地域
8.6.1 アジア太平洋地域半導体検査・計測装置市場規模・予測（2019～2030）
8.6.2 国・地域別のアジア太平洋地域半導体検査・計測装置市場規模シェア
8.7 南米
8.7.1 南米半導体検査・計測装置の市場規模・予測（2019～2030）
8.7.2 国別の南米半導体検査・計測装置市場規模シェア
8.8 中東・アフリカ
9 国別の半導体検査・計測装置市場規模一覧
9.1 国別のグローバル半導体検査・計測装置の市場規模＆CAGR、2019年 VS 2023年 VS 2030年
9.2 国別のグローバル半導体検査・計測装置の売上（2019～2030）
9.3 国別のグローバル半導体検査・計測装置の販売量（2019～2030）
9.4 米国
9.4.1 米国半導体検査・計測装置市場規模（2019～2030）
9.4.2 製品別の米国販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.4.3 “アプリケーション別の米国販売量市場のシェア、2023年 VS 2030年
9.5 ヨーロッパ
9.5.1 ヨーロッパ半導体検査・計測装置市場規模（2019～2030）
9.5.2 製品別のヨーロッパ半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.5.3 アプリケーション別のヨーロッパ半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.6 中国
9.6.1 中国半導体検査・計測装置市場規模（2019～2030）
9.6.2 製品別の中国半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.6.3 アプリケーション別の中国半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.7 日本
9.7.1 日本半導体検査・計測装置市場規模（2019～2030）
9.7.2 製品別の日本半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.7.3 アプリケーション別の日本半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.8 韓国
9.8.1 韓国半導体検査・計測装置市場規模（2019～2030）
9.8.2 製品別の韓国半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.8.3 アプリケーション別の韓国半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.9 東南アジア
9.9.1 東南アジア半導体検査・計測装置市場規模（2019～2030）
9.9.2 製品別の東南アジア半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.9.3 アプリケーション別の東南アジア半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.10 インド
9.10.1 インド半導体検査・計測装置市場規模（2019～2030）
9.10.2 製品別のインド半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023 VS 2030年
9.10.3 アプリケーション別のインド半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023 VS 2030年
9.11 中東・アフリカ
9.11.1 中東・アフリカ半導体検査・計測装置市場規模（2019～2030）
9.11.2 製品別の中東・アフリカ半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023年 VS 2030年
9.11.3 アプリケーション別の中東・アフリカ半導体検査・計測装置販売量の市場シェア、2023 VS 2030年
10 会社概要
10.1 KLA Corporation
10.1.1 KLA Corporation 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.1.2 KLA Corporation 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.1.3 KLA Corporation 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.1.4 KLA Corporation 会社紹介と事業概要
10.1.5 KLA Corporation 最近の開発状況
10.2 Applied Materials
10.2.1 Applied Materials 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.2.2 Applied Materials 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.2.3 Applied Materials 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.2.4 Applied Materials 会社紹介と事業概要
10.2.5 Applied Materials 最近の開発状況
10.3 Hitachi High-Technologies
10.3.1 Hitachi High-Technologies 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.3.2 Hitachi High-Technologies 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.3.3 Hitachi High-Technologies 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.3.4 Hitachi High-Technologies 会社紹介と事業概要
10.3.5 Hitachi High-Technologies 最近の開発状況
10.4 ASML
10.4.1 ASML 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.4.2 ASML 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.4.3 ASML 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.4.4 ASML 会社紹介と事業概要
10.4.5 ASML 最近の開発状況
10.5 Onto Innovation
10.5.1 Onto Innovation 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.5.2 Onto Innovation 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.5.3 Onto Innovation 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.5.4 Onto Innovation 会社紹介と事業概要
10.5.5 Onto Innovation 最近の開発状況
10.6 Lasertec
10.6.1 Lasertec 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.6.2 Lasertec 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.6.3 Lasertec 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.6.4 Lasertec 会社紹介と事業概要
10.6.5 Lasertec 最近の開発状況
10.7 SCREEN Semiconductor Solutions
10.7.1 SCREEN Semiconductor Solutions 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.7.2 SCREEN Semiconductor Solutions 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.7.3 SCREEN Semiconductor Solutions 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.7.4 SCREEN Semiconductor Solutions 会社紹介と事業概要
10.7.5 SCREEN Semiconductor Solutions 最近の開発状況
10.8 ZEISS
10.8.1 ZEISS 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.8.2 ZEISS 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.8.3 ZEISS 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.8.4 ZEISS 会社紹介と事業概要
10.8.5 ZEISS 最近の開発状況
10.9 Camtek
10.9.1 Camtek 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.9.2 Camtek 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.9.3 Camtek 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.9.4 Camtek 会社紹介と事業概要
10.9.5 Camtek 最近の開発状況
10.10 Skyverse
10.10.1 Skyverse 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.10.2 Skyverse 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.10.3 Skyverse 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.10.4 Skyverse 会社紹介と事業概要
10.10.5 Skyverse 最近の開発状況
10.11 Toray Engineering
10.11.1 Toray Engineering 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.11.2 Toray Engineering 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.11.3 Toray Engineering 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.11.4 Toray Engineering 会社紹介と事業概要
10.11.5 Toray Engineering 最近の開発状況
10.12 RSIC
10.12.1 RSIC 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.12.2 RSIC 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.12.3 RSIC 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.12.4 RSIC 会社紹介と事業概要
10.12.5 RSIC 最近の開発状況
10.13 Precision Measurement
10.13.1 Precision Measurement 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.13.2 Precision Measurement 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.13.3 Precision Measurement 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.13.4 Precision Measurement 会社紹介と事業概要
10.13.5 Precision Measurement 最近の開発状況
10.14 Microtronic
10.14.1 Microtronic 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.14.2 Microtronic 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.14.3 Microtronic 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.14.4 Microtronic 会社紹介と事業概要
10.14.5 Microtronic 最近の開発状況
10.15 Unity Semiconductor SAS
10.15.1 Unity Semiconductor SAS 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.15.2 Unity Semiconductor SAS 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.15.3 Unity Semiconductor SAS 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.15.4 Unity Semiconductor SAS 会社紹介と事業概要
10.15.5 Unity Semiconductor SAS 最近の開発状況
10.16 SMEE
10.16.1 SMEE 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.16.2 SMEE 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.16.3 SMEE 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.16.4 SMEE 会社紹介と事業概要
10.16.5 SMEE 最近の開発状況
10.17 TZTEK（Muetec）
10.17.1 TZTEK（Muetec） 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.17.2 TZTEK（Muetec） 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.17.3 TZTEK（Muetec） 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.17.4 TZTEK（Muetec） 会社紹介と事業概要
10.17.5 TZTEK（Muetec） 最近の開発状況
10.18 DJEL
10.18.1 DJEL 企業情報、本社、販売地域、市場地位
10.18.2 DJEL 半導体検査・計測装置製品モデル、仕様、アプリケーション
10.18.3 DJEL 半導体検査・計測装置販売量、売上、価格、粗利益率、2019～2024
10.18.4 DJEL 会社紹介と事業概要
10.18.5 DJEL 最近の開発状況
11 結論
12 付録
12.1 研究方法論
12.2 データソース
12.2.1 二次資料
12.2.2 一次資料
12.3 データ クロスバリデーション
12.4 免責事項
| ※参考情報 半導体検査・計測装置は、半導体デバイスの製造過程において重要な役割を果たす機械や装置のことを指します。これらの装置は、半導体ウェハやチップの品質を検査し、その性能を測定するために不可欠です。半導体産業は、テクノロジーの進化とともに急速に発展しており、それに伴い検査・計測装置も常に進化を遂げています。 まず、半導体検査・計測装置の定義から見ていきましょう。これらの装置は、製造された半導体デバイスが設計通りに機能するかどうかを確認するために使用されます。これには、物理的、電気的、化学的な特性を測定することが含まれます。例えば、デバイスの抵抗値、 capacitance、電流、電圧などの電気特性を測定することにより、デバイスの動作が設計通りであるかを確認します。 次に、半導体検査・計測装置の特徴について述べます。これらの装置は、高い精度と再現性が求められます。半導体デバイスは微細加工技術によって製造され、デザインルールが年々縮小しています。このため、測定精度が求められる領域も狭くなります。また、検査時間の短縮も大きな課題です。製造プロセスが進化する中で、リアルタイムでの検査が求められるようになっています。このため、オートメーション技術や、AIを活用したデータ解析技術が導入されることが増えています。 半導体検査・計測装置は大きく分けていくつかの種類に分類されることがあります。一つは、ウェハレベルでの検査・計測装置です。これには、ウェハの欠陥や不良を検出するための装置が含まれます。たとえば、光学顕微鏡や電子顕微鏡を用いて、表面の欠陥を観察したり、画像を解析することができます。また、非破壊検査技術も多用されます。 さらに、もう一つの重要なカテゴリーには、デバイスタイレベルでの検査装置があります。これには、実際にパッケージ化されたチップを対象にした特性測定が含まれます。特に、半導体デバイスの動作特性を確認するための電気計測装置が重要です。これらの装置は、デバイスが要求する動作条件下での特性を正確に測定し、デバイスが設計仕様を満たしているかどうかを判断します。 用途としては、半導体検査・計測装置は多岐にわたります。製造工程中の各段階で使用され、主に初期のデザイン検証、プロセス中の親和性検査、最終製品の品質管理といった場面で活躍します。例えば、新しい材料やプロセス技術の開発時に、早期に不具合を検出するためのプロトタイプ検査や、製造ラインにおけるビッグデータ分析を通じて不良品の発生率を低下させるために利用されます。 関連技術にも注目すべきです。最近では、機械学習やディープラーニングなどのAI技術が、検査・計測装置の効率化に大きく貢献しています。従来の手法では見逃してしまうような微細な欠陥を、AIを用いた画像解析によって迅速かつ正確に検出することが可能になっています。また、IoT技術の進展により、リアルタイムでのデータ収集と分析が行えるようになり、製造プロセスの最適化が図られています。 さらに、半導体のスケーリング技術の進展に伴い、ナノメートルスケールでの特性評価を行うための新しい測定方法や装置の開発も進められています。例えば、原子間力顕微鏡（AFM）や走査トンネル顕微鏡（STM）といった高度な測定技術は、微細構造を直接観察する手段として重要です。これにより、材料特性とデバイス性能との関連を深く理解し、さらなる性能向上に繋げることが期待されています。 最後に、今後の展望について触れます。半導体産業は急速に変化しており、特に5G、AI、IoTなどの技術革新に伴って新しいデバイスが次々と登場しています。これにより、検査・計測装置もますます高度化し、複雑化することが予想されます。自動化やAI技術の導入はもちろんのこと、クラウドベースでのデータ分析技術が派生し、リアルタイムでのプロセス最適化が進むでしょう。 また、サステナビリティの観点からも、環境に優しい製造プロセスや材料の開発が求められる時代に突入しています。このため、半導体検査・計測装置も、環境への配慮を考慮した設計が求められ、エネルギー消費の削減や、化学物質の使用削減が重要なテーマとなるでしょう。 このように、半導体検査・計測装置は、今後も技術革新とともに進化し、半導体産業の基盤を支える重要な役割を果たしていくことが期待されます。 |
